走査電子顕微鏡計測機器|資源環境課

微小領域の観察、元素分析試料最表面の微細な構造をより明確に観察でき、高倍率のSEM像が得られます。
また、EDSを備えており、観察部位の元素分析を行うことができます。

注意:下記のようなサンプルは観察できません。
1)磁石にくっつくもの
2)多量の水分を含んだもの
3)減圧するとガスがでてくるもの


使用料項目 SEM観察のみの場合:電界放出型走査電子顕微鏡、EDS使用する場合:エネルギー分散型X線分析装置(SEM使用含む)

機器の仕様

メーカー 日本電子(株)
型式 JSM-6701F
スペック 倍率:100~100,000倍
SEM像:二次電子像,反射電子像(組成像、凹凸像)
元素分析機能(EDS):B(ホウ素)より原子番号の大きい元素についてSEM視野での定性、定量分析が可能
特記事項

導入年度 H21
導入事業名等

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