X線回折装置分析機器|資源環境課

この装置は競輪の補助を受けて導入しました。

天然鉱物の同定、工業製品の品質管理、製造工程での異物の同定などに迅速に対応できる。
当装置は、物質の結晶面間隔を測定することにより、その物質を同定し、結晶構造解析を行うものである。

使用例

試料の結晶相や化合物の定性・定量分析及び結晶状態(結晶子サイズ、残留応力など)の評価。
測定は集中法・平行法、反射法・透過法が可能で、小角散乱測定によるナノサイズの粒度分布測定に対応。

例)JIS A1481「建材製品中のアスベスト含有率測定方法」

使用料項目 X線回折装置

機器の仕様

メーカー スペクトリス(株)
型式 パナリティカル EMPYREANシステム
スペック 測定方法:水平θ-θ駆動
スキャン範囲(2θ):-111~168°
X線管球:Cu1.8kW、Co1.8kW
検索用データベース:ICSD、ICDD PDF-2
検出器ピクセルサイズ:55×55µm
検出器:半導体検出器(0D、1Dモード)、PC検出器+モノクロメータ
平行ミラー、サンプルチェンジャー、スピナーステージ、フラットステージ、加熱ステージ、XYZステージ、CCDカメラ、マイクロビームマスク、モノキャピラリー
特記事項

導入年度 H28
導入事業名等 公益財団法人JKA「公設工業試験研究所等における機械設備拡充補助事業」

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